Goto T., Izumi T., Shiohara Y., Aoki Y., Hasegawa T., Yamada Y., Sutoh Y., Yajima A., Miura M., Yoshizumi M., Nakai A., Nakanishi T., Ichikawa Y.
Goto T., Izumi T., Shiohara Y., Yamada Y., Sutoh Y., Miyata S., Yajima A., Yoshinaka A., Miura M., Nakaoka K., Yoshizumi M.
Goto T., Izumi T., Shiohara Y., Kato T., Hirayama T., Sutoh Y., Yajima A., Miura M., Yoshizumi M., Yashima A.
Saitoh T., Izumi T., Shiohara Y., Yamada Y., Sutoh Y., Matsuda J., Yajima A., Nakaoka K., Kitoh Y., Yoshizumi M., Suzuki K., Nakai A., Nakanishi T.
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, TFA-MOD process, long conductors, critical current, thickness dependence, composition, Jc/B curves, review, fabrication, critical caracteristics, review
Goto T., Izumi T., Shiohara Y., Yamada Y., Sutoh Y., Matsuda J., Yajima A., Nakaoka K., Kitoh Y., Yoshizumi M., Nakanishi T.
Izumi T., Shiohara Y., Yamada Y., Sutoh Y., Matsuda J., Yajima A., Machi T., Nakaoka K., Kitoh Y., Yoshizumi M., Suzuki K., Nakai A., Nakanishi T.
Ключевые слова: HTS, YBCO, REBCO, coated conductors, composition, Jc/B curves, TFA-MOD process, pinning centers, IBAD process, fabrication, critical caracteristics
Fuji H., Izumi T., Shiohara Y., Aoki Y., Yamada Y., Matsuda J., Yajima A., Teranishi R.(teranishi@istec.or.jp), Nakaoka K., Kitoh Y., Nomoto S., Suzuki K.
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, TFA-MOD process, review, fabrication
Teranishi R., Fuji H., Aoki Y., Izumi T.(izumi@istec.or.jp), Yamada Y., Matsuda J., Yajima A., Nakaoka K., Kitoh Y., Nomoto S.
Ключевые слова: HTS, coated conductors, TFA-MOD process, long conductors, review, YBCO, critical current, thickness dependence, Jc/B curves, fabrication, critical caracteristics
Teranishi R., Tokunaga Y., Fuji H., Izumi T., Shiohara Y., Aoki Y., Yamada Y., Yajima A., Matsuda J.S., Koyama S., Nakaoka K.
Goto T., Teranishi R., Fuji H., Kaneko A., Murata K., Aoki Y., Yajima A., Yoshinaka A., Nakaoka K., Matsuda J.(jmatsuda@istec.or.jp)
Ключевые слова: HTS, YBCO, YBCO, coated conductors, TFA-MOD process, substrate SrTiO3, Jc/B curves, fabrication, critical caracteristics
Fuji H., Izumi T., Shiohara Y., Aoki Y., Yamada Y., Matsuda J., Yajima A., Teranishi R.(teranishi@istec.or.jp), Nakaoka K., Kitoh Y., Nomoto S.
Saitoh T., Teranishi R., Izumi T., Shiohara Y., Fuji H.(hfuji@istec.or.jp), Yamada Y., Matsuda J., Yajima A., Nakaoka K., Kito Y.
Iijima Y., Goto T., Saitoh T., Teranishi R., Fuji H., Izumi T., Shiohara Y., Aoki Y., Yamada Y., Matsuda J., Yajima A., Yoshinaka A., Nakaoka K., Kitoh Y.
Iijima Y., Saitoh T., Teranishi R., Tokunaga Y., Fuji H., Asada S., Izumi T., Shiohara Y., Kaneko A., Honjo T., Matsuda J.S.(jmatsuda@istec.or.jp), Yajima A.
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, microstructure, heat treatment, TFA-MOD process, fabrication, substrate Hastelloy, IBAD process
Tokunaga Y., Fuji H., Izumi T., Shiohara Y., Honjo T., Matsuda J., Yajima A., Teranishi R.(teranishi@istec.or.jp)
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, TFA-MOD process, substrate SrTiO3, microstructure, critical current density, fabrication, critical caracteristics
Goto T., Teranishi R., Tokunaga Y., Fuji H., Asada S., Izumi T., Shiohara Y., Murata K., Honjo T., Yajima A., Kaneko A.(akaneko@istec.or.jp), Matsuda J.S., Yoshinaka A.
Ключевые слова: HTS, REBCO, coated conductors, TFA-MOD process, substrate SrTiO3, resistivity, fabrication
Iijima Y., Goto T., Muroga T., Saitoh T., Teranishi R., Tokunaga Y., Fuji H., Asada S., Shiohara Y., Watanabe T., Honjo T., Izumi T.(izumi@istec.or.jp), Yamada Y., Miyata S., Matsuda J., Yajima A., Yoshinaka A.
Iijima Y., Goto T., Saitoh T., Teranishi R., Fuji H., Asada S., Izumi T., Shiohara Y., Kaneko A., Murata K., Honjo T., Tokunaga Y.(tokunaga@istec.or.jp), Yamada Y., Matsuda J., Yajima A., Yoshinaka A.
Ключевые слова: HTS, YBCO, substrate Hastelloy, TFA-MOD process, fabrication, critical current density, critical caracteristics
Iijima Y., Goto T., Saitoh T., Izumi T., Shiohara Y., Honjo T., Tokunaga Y.(tokunaga@istec.or.jp), Yajima A., Yoshinaka A.
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, TFA-MOD process, substrate Hastelloy, IBAD process, microstructure, precursors, Jc/B curves, fabrication, critical caracteristics
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.
Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ru
Техническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.